고집적 회로에 대한 고속 경로지연 고장 시뮬레이터

A High Speed Path Delay Fault Simulator for VLSI

스캔 환경에 바탕을 둔 대부분의 경로 지연고장 시뮬레이터들은 개선된 스캔 플 립플롭을 사용하며 일반적인 논리 게이트를 대상으로만 동작한다. 본 연구에서는 새 로운 논리값을 사용한 새로운 경로 지연고장 시뮬레이션 알고리즘을 고안하여 이의 적용범위를 CMOS 소자를 포함하는 대규모 집적회로로 확장하였다. 제안된 알고리즘에 기초하여 표준 스캔 환경 하에서 동작하는 고속 지연고장 시뮬레이터를 개발하였다. 실험결과는 새 시뮬레이터가 효율적이며 정확함을 보여준다.

Most of the available delay fault simulators for scan environments rely on the use of enhanced scan flip-flops and exclusively consider circuits composed of only discrete gates. In this research, a new path delay fault simulation algorithm using new logic values is devised to enlarge the scope to the VLSI circuits which consist of CMOS elements. Based on the proposed algorithm, a high speed path delay fault simulator for standard scan environments is developed. The experimental results show the new simulator is efficient and accurate.