전자공학회지 (The Magazine of the IEIE)

대한전자공학회 (The Institute of Electronics and Information Engineers)
권호 표지

COMS 회로의 신뢰도 향상을 위한 IDDQ 테스팅 기법

IDDA Testing Techniques for the Improvement of Reliability in CMOS VLSI

  • 김강철 (보주산업대학교 전자계산학과) ;
  • 한철붕 (경상대학교 전자공학과)
  • 발행 : 1996.04.01
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