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본 고에서는 반도체화된 정보화 기기에 침입하는 뇌써-지의 경로와 양상, 뇌써-지차단장치와 이의 시험규격, 과도접지특성 및 등전위화 등 적용기술 등에 대하여 개략적으로 기술한다.