Detection and Location of Open Circuit Fault by Space Search

Space Search에 의한 회로의 단선 결함을 발견 및 위치 검색법

  • Han, Kyong-Ho (Department of Electrical Engineering Dankook University) ;
  • Kang, Sang-Won (Department of Control and Instrumentation Hanyang University) ;
  • Lee, In-Sung (Signal Processing Section Electronics and Telecommunications Research Institute)
  • Published : 1995.01.01

Abstract

In this paper a space search technique is used to detect and locate the faults of the circuit interconnections. The circuit interconnections are represented by the tree structure and the tree space is searched to detect and locate the open faults of the circuit interconnections. The breadth search is used to detect the open faults and reduce the space size. The depth search is used to locate the open faults.

인공지능(AI)의 한기법인 Space Search 기법을 이용하여 회로의 단선 결함의 유무 및 결함위치를 찾아내는 방법을 제시하였다. 보통 회로의 결함은 단선 및 단락의 구조적 결함으로 나뉘어진다. 두가지 결함 모두 회로의 기능에 중대한 이상을 초래한다. 그중 단선에 의한 회로의 결함에 대하여 다루었다. 우선 회로를 net와 net의 연결 path에 따라 tree 구조로 변환하였다. 서로 독립된 net들은 서로 다른 tree의 node를 이루며 각각의 tree는 적기적으로 연결됨이 없다. 각 tree의 최상단부의 root node에 test vector를 입력하고 최하단부의 leaf node에서 vector를 관찰하여 입력된 test vector와 비교한다. 그 비교 결과 동일 유무에 따라 결함의 유무를 판정한다. 결함이 있다고 판정된 leaf node는 depth search 방법에 의하여 root node쪽으로 test vector를 관찰하여, 전기적 신호에 의하여 회로의 서놔 단선된 위치를 찾아내도록 하는 방법을 제시하였다.

Keywords