초록
고장원인이 여럿인 수리불가능한 제품에 대하여 사용환경에서 얻어진 고장데이터와 추적조사에 의해 얻어진 설명변수에 관한 데이터를 이용하여 제품의 고장원인별 수명분포를 추정한 배도선 등(1995)의 연구를 수리가능한 제품의 경우로 확장하였다. 수명분포의 모수와 설명변수가 대수선형 관계일 때 비동질성 포아송과정을 이용하여 의사우도함수를 유도하고, 고장원인별 수명이 와이블 분포를 따를 때의 의사 최우추정량과 점근분산을 구하였다. 추적조사 방법으로는 보증기간동안 고장이 발생하지 않은 제품의 일정비율을 추적조사하는 경우와 총 시험제품의 일정비율을 랜덤하게 선택하고 이들 중에서 보증기간동안 한번도 고장이 발생하지 않은 제품에 대해서만 추적조사하는 경우를 고려하였다.
This paper is concerned with the method of estimating lifetime distribution from field data for repairable products with multiple modes of failure, and is an extension of Bai et al.(1995). The log linear function is considered as a model for describing the relation between failure time of a product and covariates. Using the nonhomogeneous poisson process, general methods for obtaining pseudo maximum likelihood estimators(PMLEs) for the parameters are outlined and specific formulas for Weibull distribution are obtained. Effects of follow-up percentage on the PMLEs are investigated. Extension to case-cohort design is also considered.