메모리에서 PSF 검출을 위한 알고리즘 및 BIST 설계

PSF detection algorithm and BIST design in memory

본 논문에서는 RAM에서의 functional 고장인 PSF를 검출할수 있는 "알고리듬 마"를 제안한다. 이 알고리듬은 PSF의 형태를 한정시켜서 제한된 범위의 PSF(restricted PSF or neighborhood PSF)를 검출하는 것으로써 "알고리듬 마"는 SNPSF, PNPSF 및 일부의 ANPSF를 검출하며, 고전적인 고장인 stuck-at 고장 및 천이(transition)고장도 검출한다. 이 알고리듬의 시간 복잡도는 1536xP로써 P는 메모리블럭의 분할갯수를 나타낸다. 또한 "알고리듬 마"의 BIST scheme을 제안하였다.

We propose "algorithm MA" which can detect PSF that is the functional fault in RAM. This algorithm based on the restricted PSF(or neighborhood PSF) and can detect not only conventional stuck-at and transition faults but also SNPSF, PNPSF and partially ANPSF. The time complexity of "algorithm MA" has 1536xP(P=no. of partition). We propose total BIST(built-in self test) scheme which implement this algorithm in memory chip.ithm in memory chip.