Electrical & Electronic Materials (E2M - 전기 전자와 첨단 소재)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

Correction of collimator aperture in plasma image measurement system

플라즈마화상 계측 시스템에 있어서의 시준기특성의 보정

  • 백승권 (인제대학교 전자공학과) ;
  • 하영선 (대림전문대학 전기공학과) ;
  • 윤상호 (유한공업전문대학 전기공학과)
  • Published : 1993.07.01
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Abstract

플라즈마화상 계측 시스템에 있어서 단층화상의 화질이 떨어지는 문제점 중의 하나로서 시준기특성이 있다. 이것은 시준기가 길이를 가진 형태이기 때문에 생기는 것으로써 화상에서는 천이변형의 왜곡으로 나타난다. 본 논문에서 보정법으로 측정데이타를 공간주파수상에서 천이불변형태로 디콘볼루션하는 방법을 제시하고 시준기의 각도를 파라메타로 해서 플라즈마 계측에 의한 실제의 데이타에 그 보정법의 유효성을 검증하였다.

Keywords