The Magazine of the IEIE (전자공학회지)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

Thick Film Resistor의 경시변화특성

  • 이중휘 (생산기술연구원 신뢰성시험실) ;
  • 한광윤 (생산기술연구원 신뢰성시험실)
  • Published : 1992.02.01
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