Electrical & Electronic Materials (E2M - 전기 전자와 첨단 소재)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

Deposition condition, Cinfirmation, and electrical properties of ${C_22}$-quinolium(TCNQ) langmuir-blodgett films

박막의 누적조건, 누적확인 및 전기적인 특성

  • 김태완 (홍익대학교 물리학과) ;
  • 박승규 (홍익대학교 전지제어공학과) ;
  • 홍언식 (홍익대학교 전산전기공학과) ;
  • 홍진표 (삼성종합기술원 초전도실) ;
  • 강도열 (홍익대학교 전지제어공학과)
  • Published : 1992.12.01
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Abstract

C$_{2+}$-Quinolium(TCNQ) 유기 초박막을 Langmuir-Blodgett 방법을 이용하여 유리기판 위에 누적하였다. 이의 최적 누적조건을 알아보기 위하여 .pi.-A isotherm특성을 온도, pH, 압축 속도, 분산량 등을 변화시키면서 조사하였다. 누적 과정은 전이비를 통하여 고체 기판에 누적되는 정도를 살펴볼 수 있었으며 누적된 박막은 다음과 같은 방법으로 확인하였다. 광학적인 방법으로 광흡수도, 전기적인 방법으로 전기 용량, 그리고 기계적인 방법으로 두께를 직접 측정하여 누적된 박막의 상태를 관찰하였다. 상온에서 이방성 전기 전도도를 측정하였는데 수평 방향으로 ~1 x $10^{-7}$S/cm, 수직 방향으로 ~1 x $10^{-14}$S/cm의 값을 얻었다.

Keywords