Determination of Optical Constants and Observation of Patterns of Dielectric Thin Films Using Surface Plasmon Resonance

표면 플라즈몬 공명을 이용한 유전체 박막의 광학 상수 결정과 형상 측정

Distribution of electric fields of surface plasmons at resonance and off-resonance angles were calculated and compared. As applications of surface plasmon resonance, (1) optical constants of ZnS films overcoated on Ag films were measured as the thickness of ZnS films increased, (2) four surface plasmon resonances distributed spatially due to the different thickness of SiO thin films overcoated on Ag films were observed in a picture frame by employing diverging waves of incidence, and (3) patterns of SiO thin films such as a grating and a character "가" overcoated on Ag films were measured by employing collimated waves of incidence.

공명각과 비공명각에서 각각 표면 플라즈몬의 전기장 분포를 계산하고 두 경우를 비교하였다. 표면 플라즈몬 공명의 응용으로서 (1) 은박막 위에 덧증착한 얇은 ZnS 박막의 광학 상수를 두께가 증가함에 따라 측정하였고, (2) 발산하는 입사파를 이용하여 은박막 위에 덧증착한 두께가 서로 다른 SiO 박막에 의한 4개의 표면 플라즈몬 공명을 한 화면에서 관측하였으며 (3) 평행광을 이용하여 은박막 위에 덧증착한 격자 모양의 SiO박막과 문자 "가" 모양의 SiO 박막의 형상을 측정하였다.