편광 변조 방법에 의한 자기 Kerr 회전각 및 Faraday 회전각 측정

Measurement of magnetic kerr rotation and faraday fotation angles by polarization modulation method

광자기 기록 박막의 자기 광학효과에 의한 미소 편광 회전각을 축정하기 위하여 편광 변조 방법을 이용하였다. 편광 변조 방법은 Faraday 회전자로 레이저광의 편광을 변조하고 phase sensitive detection방법을 써서 변조된 신호만을 선택적으로 검출하는 것이다. 본 실험에서는 진공증착법으로 제작된 TbFeCo박막과 RF 스퍼터링으로 제작된 iron garnet 다결정 박막의 자기 Kerr 회전 및 Faraday 회전 이력곡선을 이 방법으로 조사하였다. 그 결과 $0.25^{\circ}$정도의 미소한 회전각을 측정하였으며 특히 longitudinal Kerr 회전의 경우 $2.5\times10^{-3^\circ}$정도의 매우 작은 회전각도 측정할 수 있었다.

In order to measure fine rotation angles by magneto-optic effects of magneto-optical recording thin films, a polarization modulation method is used. In the experiment, the polarization of laser (He-Ne laser) beam is modulated by a Faraday rotator and the amplified modulated signals are selectively detected by phase sensitive detector. The magnetic Kerr rotation and Faraday rotation hysteresis loops are investigated by this method for thermally evaporated amorphous TbFeCo thin films and RF sputtered garnet thin films. Rotation angles about $0.25^{\circ}$ are measured easily from TaFeCo thin films. In the case of longitudinal Kerr rotation, very small rotation angle of $2.5\times10^{-3^\circ}$ is measured with good accuracy of the measurement (about $1\times10^{-3^\circ}$). And it is found that each thin films have the hysteresis curves of high coercivity and good squareness.