전기의세계
- Volume 40 Issue 6
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- Pages.30-37
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- 1991
- /
- 1598-4613(pISSN)
VLSI 시험기법 소개
Abstract
본 고에서는 먼저 chip 기술의 발전 경향을 살펴본 후, 기존 ATPG의 개념과 기법을 알아보고 DL의 개념 및 용도를 소개한 후 DFT의 세가지 주요기법:Ad-hoc기법, Structured기법 및 self-test 기법에 대하여 기술하고자 한다.
Keywords
본 고에서는 먼저 chip 기술의 발전 경향을 살펴본 후, 기존 ATPG의 개념과 기법을 알아보고 DL의 개념 및 용도를 소개한 후 DFT의 세가지 주요기법:Ad-hoc기법, Structured기법 및 self-test 기법에 대하여 기술하고자 한다.