The Microwave Measurement of the Dielectric Properties of Low-Loss Materials by the Dielectric Rod Resonator Method

고주파 대역에서 Dielectric Rod Resonator 방법에 의한 저유전 손실 물질의 유전 특성 측정

  • Kim, Geun-Young (Dept. of Elec., College of Science & Eng., Sogang Univ.) ;
  • Shim, Hwa-Sup (Dept. of Elec., College of Science & Eng., Sogang Univ.) ;
  • An, Chul (Dept. of Elec., College of Science & Eng., Sogang Univ.) ;
  • Chang, Ik-Soo (Dept. of Elec., College of Science & Eng., Sogang Univ.)
  • 김근영 (西江大學校 理工大學 電子工學科) ;
  • 심화섭 (西江大學校 理工大學 電子工學科) ;
  • 안철 (西江大學校 理工大學 電子工學科) ;
  • 장익수 (西江大學校 理工大學 電子工學科)
  • Published : 1990.10.01

Abstract

Theory and experimental results of measuring the microwave dielectric characteristics of low-loss materials by using dielectric rod resonator method are presented. The $TE_{011}$ mode resonance frequency was adapted to minimize the effect of the air gap between the rod and the conducting plates. The dielectric properties were computed from the resonance frequency, sample geometry and 3 dB bandwidth. The error of measurements was within ${\pm}3{\%}$ for dielectric constant and was within ${\pm}12{\%}$ for dielectric loss.

Dielectric rod resonator 방법을 이용하여 고주파 대역에서 낮은 유전 손실을 갖는 유전체의 유전 특성을 측정하는 이론과 실험결과를 보였다. 유전체 시편과 금속 도체판 사이에 존재하는 공기층 효과를 최소화하기 위해 $TE_{011}$ mode 공진 주파수를 이용하였다. 컴퓨터를 사용하여 공진 주파수와 시편 크기, 2-dB 대여폭으로부터 유전 특징을 계산하였다. 측정의 오차 범위는 유전 상수인 경우 ${\pm}3{\%}$ 유전 손실인 경우 ${\pm}12{\%}$ 이내였다.

Keywords