On the Acceleration of Redundancy Identification for VLSI Logic Optimization

VLSI 논리설계 최적화를 위한 Redundancy 조사 가속화에 관한 연구

In this paper, new methods are proposed which speed up the logical redundancy identification for the gate-level logic optimization. Redundancy indentification, as well as deterministic test pattern generation, can be viewed as a finite space search problem, of which execution time depends on the size of the search space. For the purpose of efficient search, we propose dynamic head line and mandatory assignment. Dynamic head lines are changed dynamically in the process of the redundancy identification. Mandatory assignement can avoid unnecessary assignment. They can reduce the search size efficiently. Especially they can be used even though the circuit is modified in the optimization procedure, that is different from the test pattern generation methods. Some experimental results are presented indicating that the proposed methods are faster than existing methods.

본 논문에서 게이트레벨 회로의 논리 최적화를 위한 논리적 redundancy조사를 가속화하는 새로운 방법을 제안한다. 게이트레벨 회로의 redundancy 조사문제는 테스트패턴 생성문제와 마찬가지로 유한상태 탐색문제로서, 그 실행시간이 탐색의 크기에 의존한다. 본 논문에서는 효율적인 탐색을 위해, '동적 head line'과 'mandatory 할당' 방법을 제안한다. 동적 head line은 redundancy조사과정에서 동적으로 변경되어, 탐색에서의 backtracking 수를 감소기키며, mandatory 할당은 불필요한 할당을 피할 수 있어 탐색의 크기를 줄인다. 특히 이들 방법은 기존의 테스트패턴 생성문제에서 사용한 방법과는 달리, 회로 최적화에 따른 회로의 변경에 영향을 받지 않고 사용된다. 또한, 이들 방법을 기존의 redundancy 조사시스템에 실현하여, 그 유효성을 보인다.