전기의세계
- Volume 37 Issue 7
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- Pages.64-70
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- 1988
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- 1598-4613(pISSN)
LASER를 이용한 비접촉식 외경측정기
Abstract
본고에서는 대한전선 기술연구소에서 개발되어 양산되고 있는 비접촉식 외경 측정기인 LASER MICROTEK X8700을 중심으로 비접촉식 외경 측정기의 특징, 측정원리, 구성, 광학계의 이론, 오차요인등에 관해서 논하기로 하겠습니다.
Keywords
본고에서는 대한전선 기술연구소에서 개발되어 양산되고 있는 비접촉식 외경 측정기인 LASER MICROTEK X8700을 중심으로 비접촉식 외경 측정기의 특징, 측정원리, 구성, 광학계의 이론, 오차요인등에 관해서 논하기로 하겠습니다.