LASER를 이용한 비접촉식 외경측정기

  • Published : 1988.07.01

Abstract

본고에서는 대한전선 기술연구소에서 개발되어 양산되고 있는 비접촉식 외경 측정기인 LASER MICROTEK X8700을 중심으로 비접촉식 외경 측정기의 특징, 측정원리, 구성, 광학계의 이론, 오차요인등에 관해서 논하기로 하겠습니다.

Keywords