The Evaluation of Signal Reliability for single Stuck-at-type Fault in Digital Circuit

디지털회로의 단일고착형 결함에 대한 신호적 신뢰도계정

  • 김영일 (원광대학 전자통신공학과) ;
  • 오영환 (원광대학 전자통신공학과)
  • Published : 1987.04.01

Abstract

This paper presented a method evaluating the signal reliability for signal stuck-at-type in digital circuits. Here, the signal reliability is defined as the probability that circuit output is correct, even though the fault existed at the internal parts of digital circuit. In evaluating the signal reliability, this paper presented not only fault model and algorithm for signal stuck-at-type fault but also computer program for evaluating the signal reliability with respect to complex and large circuit.

본 논문에서는 디지털回路의 단일 고착형 결함(single stuck-at-type fault)에 대한 信號的 信賴度(signal reliability)를 計定하는 방법을 보였다. 디지털 회로에 있어 신호적 신뢰도라 함은 회로내부에 결함이 존재한다고 할지라도 올바른 출력을 내는 確率을 의미한다. 신호적 신뢰도를 계정함에 있어서 단일 고착형 결함에 대한 결함 모델과 알고리즘을 보이고 또한 복잡하고 규모가 큰 회로에 적용할 수 있는 컴퓨터 프로그램도 구성하였다.

Keywords