Fault Detection of Digital Systems by Using Boolean Difference

본문에서는 영구고장의 경우를 취급 하기로 한다. 영구고장에는 어떤 gate의 출력 혹은 입력중의 하나 또는 그 이상이 회로에 가해진 入力値에 관계없 이 고정 논리값을 가질 경우가 있다. 그 고정논리값이 1일 경우를 stuck-at-1(s-a-1)이라 하고 0일 경우를 stuck-at-0(s-a-0)로 나타내기로 한다. 만약 어떤 論理함수 f가 n개의 입력변수의 함수이라고 가정하면, 入力pattern수 2n개로는 어떤 고장도 검출가능하나 n가 증가함에 따라 이 방법은 실용적이 못되 기 때문에 최소한의 test pattern을 구할 필요성이 생긴다. 이 최소의 test Pattern 수를 구하는 데 있어서 random test 生成法 등의 確率論的인 方法과, Armatrong 에 依한 一次元經路 活性化法, seller 등에 依한 boolean difference, Roth 등에 의 한 d-algorithm 등이 있는데 본문에서는 主로, 해석적 方法인 boolean difference 를 利用한 test pattern 生成에 관해 소개코져 한다.