대한전자공학회논문지 (Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics)

대한전자공학회 (The Institute of Electronics and Information Engineers)
권호 표지

Programmable Storage/Logic Array에 대한 보편적인 Test Set

Universal Test Set for Programmable Storage/Logic Arrays

  • 도양회 (경북대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 권우현 (경북대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 김채영 (경북대학교 공과대학 전자공학과)
  • Do, Yang-Hoe (Dept.of Electronics Engineering, Engineering College, Kyungpook National University) ;
  • Gwon, U-Hyeon (Dept.of Electronics Engineering, Engineering College, Kyungpook National University) ;
  • Kim, Chae-Yeong (Dept.of Electronics Engineering, Engineering College, Kyungpook National University)
  • 발행 : 1985.01.01
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초록

쉽게 시험할 수 특성을 가진 SLA 의 설계에 관해 논하였다. 제안된 SLA는 hardware를 부가함으로써 회로의 상태를 쉽게 조절하고 점검할 수 있게 하였다. 제안된 SLA는 test pattern과 응답이 SLA에 구현된 함수에 관계없고 단지 SLA의 크기에 따라 유일하게 결정되는 매우 짧은 보편적인 test sequence를 갖는다. 여기서 고려된 SLA의 고장은 단일 및 다중 stuck faults, crosspoint faults 및 bridge faults이다. 또한 고장의 위치 판별 및 그 처리에 관해서도 고찰하였다.

Design techniques for programmable storage/logic arrays(SLA's) with easily testable features are discussed. The easily testable SLA's will be designed by using additional hardware to provide an easy means to set or check the states. These augmented SLA's have the very short universal test sequences such that the test patterns and responses are uniquely determined only by the size of the SLA's independently of the function of them. The types of faluts considered here are single and multiple stuck faults, crosspoint faults, and bridge faults in SLA's. Fault location and reapir of SLA's are also considered.

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