반도체 접촉장벽 특성의 컴퓨터해석(II

Computer Analysis of Semiconductor Barrier Characteristics (II)

이 논문은 단일 전하로 전달되는 이중(금속-반도체-금속) 접착 소자에서 일차원적인 수송 방정식을 정상 상태에서 마이크로 컴퓨터로 해를 구하였다. 수송방정식을 해석적으로 풀이 하기 위해 일반적으로 행하여왔던 대부분의 가정과 개략치는 본 논문에서는 배제하였다. 결과는 에너지 상태, 밀도상태, 전류-전압 특성등에 관하여 중점을 두엇다. 인가 전압의 함수로 나타낸 미분 정전 용얄의 컴퓨터에 의한 해를 제시히고 영상전하 효과로 수정법도 제시 하였다.

This paper presents a steady-state computer solution of one-dimensional transport equations, describing a double(metal-semiconductor-metal) contact device, involving only one type of charge carrier. Most of the assumptions and approximations which are ordinarily introduced in order to make the transport equations analytically soluble are avoided here. The results are presented mainly in the form of(a) energy contours (b) concentration contours and (c) I-V characteristics. A computation of differential system capacitance as a function of applied voltage is also presented and schematic corrections are introduced for image force effects.