A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System

디지털 시스템의 히로측정 평가방식에 관한 연구

This paper deals with the testability evaluation method for the digital systems. This method uses two factors: the complexity and the accessibility. The complexity depends on the ratio in combinational and sequential circuits, number of input/output terminals, and the circuit count by using the gate input level method. The accessibility is how easily to handle the data from I/O terminals. The system testability has a normalized value. Thus, analyzing the testability evaluation, and redesigning the circuit to improve testability, the systems increase interests for the maintenance and have high reliability. Finally, in comparison with Stephenson and Grason's technique, this technique gives sufficiently accurate results for much less computation effort.

본 논문은 디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구로서, 조합논리회로와 순서논리회로에서의 회로복잡도와 부분회로에 대한 외부 단자로부터의 접근도를 구하고, 이 수로부터 측정평가방식을 논하였다. 따라서 회로설계 초에 이 평가방식을 적용해 봄으로써, 더 좋은 측정평가도를 얻도록 재설계되어져야 하며 이러한 설계방법은 시스템 유지보수에 매우 경제적이고 신뢰도를 높일 수 있다. 또한 스테픈슨-그레손의 방법과 본 방법의 회로측정 평가도를 비교하면 결과 값은 서로일치하면서 본 방법이 계산과정에서 매우 간편하였다.