초록
여기서는 마이크로컴퓨터의 시험법에 관해서 현재시판되고 있는 시험기와 함께 소개하고 단일 칩마이크로컴퓨터에 관해서 실시하고 있는 시험 패턴 설계예를 약간 상세히 기술한다. 또 마이크로컴퓨터용 LSI의 고장모우드, 고장메카니즘의 분류및 고장율, 신뢰성의 현장과 문제점에 관해서 기술함과 동시에 초기불량을 제거하여 신뢰성을 향상시키는 수단으로서의 스크리닝(screening)및 신뢰도예측에 관해서 소개하고 현장에 있어서의 문제점과 대책에 관해서 논의한다.