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반도체 설비 예방 정비 복구 시간 단축을 위한 설정 값 예측 연구

A Study on the Prediction of Setpoint Value for Preventive Maintenance Time Reduction of Semiconductor Equipment

  • 이진경 (고려대학교 컴퓨터정보통신대학원) ;
  • 임희석 (고려대학교 컴퓨터정보통신대학원)
  • Lee, Jin-Kyeong (Graduate School of Computer & Information Technology, Korea University) ;
  • Lim, HeuiSeok (Graduate School of Computer & Information Technology, Korea University)
  • 발행 : 2022.05.17

초록

반도체 제조업은 정해진 시간 내에 최고의 품질의 반도체를 대량 생산해 내는 것을 목표로 한다. 생산량을 높이기 위해 유휴 시간을 최소화하는 연구가 꾸준히 진행 중이며 가장 대표적인 유휴 시간은 예방 정비이다. 예방 정비는 설비의 문제가 발생하기 전 예방하는 작업으로 품질 향상에 높은 영향을 미치는 작업인 반면 생산량이 크게 떨어지는 작업이다. 이 작업 시간을 최소화하기 위하여 작업 후 복구되는 시간에서 중복되는 작업을 최소화하는 방법을 선택한다. 샘플 테스트를 반복하며 조율해 나가던 작업을 연구 모델을 이용해 종말점 설정 값의 예측한 값을 바로 적용하여 최소한의 샘플 테스트를 거쳐 신뢰 구간 달성 후 생산에 재 합류하는 것을 목표로 한다. 설비에서 수집된 데이터를 학습하여 종말점 설정 값 예측 모델에 대하여 연구한다. 연구 모델을 사용한 예측 결과가 신뢰 구간에 포함되어 샘플 테스트 개수를 줄이는데 유효한 효과가 있음을 확인한다.

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