Improving 3D Measurement Speed using CUDA

CUDA를 이용한 3D 측정 속도 향상

Recently, a method using a fringe pattern is widely used for 3D measurements. This is a method of measuring by using a phase value obtained by projecting a pattern to an object to be measured. This method requires many operations such as calculating the phase value and calculating the height. It takes a lot of time depending on the amount of computation. In this paper, we present a method using NVIDIA's CUDA to reduce this time. And we introduce the method of calculating phase value and height. It also shows the exact time difference between the CPU version and the CUDA version. This method is very effective because it can process the same operation in a shorter time.

최근 3D 측정을 위해서 Fringe pattern을 이용하는 방법이 많이 사용되고 있다. 이는 측정할 물체에 pattern을 뿌려 얻은 위상 값을 이용하여 측정하는 방법이다. 이를 위해선 위상 값을 계산하고 높이를 계산하는 등의 많은 연산을 요구 한다. 많은 연산량에 따라 시간이 많이 걸리고 있으며, 본 논문에서는 이 시간을 감소시키기 위해서 엔비디아의 CUDA를 이용한 방법을 제시한다. 또 위상 값과 높이를 계산하는 방법을 소개하고 CPU 버전과 CUDA 버전 사이의 비교를 통해 정확한 시간 차이를 보인다. 이 방법을 이용하면 같은 연산을 더 짧은 시간 내에 처리할 수 있어 같은 시간에 많은 부품을 검사할 수 있기 때문에 매우 효과적이라 할 수 있다.