확장 패리티 공간 기법을 이용한 병렬 전원 장치 고장검출 기법

Extended Parity Space Techniques for Fault Detection in Parallel Power Supply

  • 최상의 (국립군산대학교 IT정보제어공학부) ;
  • 이연석 (국립군산대학교 IT정보제어공학부) ;
  • 박건필 (국립군산대학교 IT정보제어공학부) ;
  • 정삼기 (국립군산대학교 IT정보제어공학부) ;
  • 나인호 (국립군산대학교 컴퓨터정보통신공학부)
  • Choi, Sang Ui (Kunsan National Univ. School of IT, Information and Control Engineering) ;
  • Lee, Yoen Seok (Kunsan National Univ. School of IT, Information and Control Engineering) ;
  • Park, Gun Pil (Kunsan National Univ. School of IT, Information and Control Engineering) ;
  • Jung, Sam Ki (Kunsan National Univ. School of IT, Information and Control Engineering) ;
  • Ra, In Ho (Kunsan National Univ. School of Computer, Information and Communication Engineering)
  • 발행 : 2016.05.20

초록

ICT(Information and Communications Technologies)의 빠른 발전으로 직류 전원의 직접 사용이 증가하고 있다. 그러나 대용량 가변가능 직류 전원 장치가 보편화되지 않았으며 현재 ICT 기기들은 내부 또는 외부에 직류 전원 정류 장치를 내장하고 있다. 앞으로 더욱더 많은 기기들이 교류 전원이 아닌 직류 전원을 사용하게 되므로 가변이 가능한 대용량의 직류 전원 장치가 필요하게 될 것이다. 그러나 가변 가능한 구조의 전원장치는 다수의 전원 장치를 병렬로 연결하여야 하므로 고장에 대한 검출 및 분리가 필요하게 된다. 이러한 고장 검출을 위하여 확장 패리티 공간 기법을 적용하였다.

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