Reflection Characteristics from Multiple Dielectric Slabs for PUF Modeling

PUF 모델링을 위한 다중 유전체 슬래브의 반사 특성

PUF technology is to prevent a copy of information from digital device and it can be seen whether cloning through its difference for process of implementation corresponding to wire and gate delay, etc. In this paper, multiple dielectric slabs on digital device is investigated to implement physical crypto device based on coating PUF type and its reflection characteristics is analyzed.

PUF는 디지털 기기의 복제 방지 기술로서 동일한 회로라도 회로를 구현하는 공정에 따라 선로지연, 게이트 지연 등이 다른 점을 이용하여 복제 여부를 알아내는 기술이다. 본 연구에서는 코팅 PUF 형태의 물리적 보안 디바이스 구현을 위해 해당 디바이스를 다중 유전체 슬래브로 코팅하고, 그 특성을 확인하기 위해 반사 특성을 계산하여 그 유효성을 검증하였다.