Accuracy Improvement of Structured Light 3D Scanning Method using Multi-Directional Pattern

다방향 패턴을 이용한 구조광 기반의 3D 스캐닝 기법의 정밀도 개선

  • Jung, Joon-Young (Department of Information and Communication Engineering, Inha University) ;
  • Lee, Min-Hyeok (Department of Information and Communication Engineering, Inha University) ;
  • Lee, Man Hee (Department of Information and Communication Engineering, Inha University) ;
  • Park, In Kyu (Department of Information and Communication Engineering, Inha University)
  • 정준영 (인하대학교 정보통신공학과) ;
  • 이민혁 (인하대학교 정보통신공학과) ;
  • 이만희 (인하대학교 정보통신공학과) ;
  • 박인규 (인하대학교 정보통신공학과)
  • Published : 2014.06.30

Abstract

본 논문에서는 다방향 패턴을 이용한 구조광(structured light)방식의 3차원 스캔 기법을 적용하여 3차원 스캐너의 3차원 형상 취득의 정밀도를 높이는 방법을 제안한다. 기존의 단방향 패턴을 이용한 3차원 구조광 방식의 스캔 기법으로 3차원 형상을 취득하는 경우, 스캔 대상 표면의 법선벡터가 패턴의 방향과 수평 할수록 부정확한 형상이 복원된다. 본 논문에서는 스캔 대상의 경사면에 따른 법선 벡터(normal vector) 검출 및 검출된 벡터를 통한 최적의 패턴 방향 선출(quantization), 그리고 각 화소의 최적의 패턴방향을 이용한 선별적인 구조광 방식의 3차원 스캔 기법을 통하여 3차원 형상 취득의 정확성을 높이는 기법을 제안한다.

Keywords