Effect of pH Adjuster on Adhesion Strength between electroless copper film and Ta diffusion barrier

반도체 배선용 무전해 구리 도금액의 pH 조정제가 접합력에 미치는 영향

  • 이창면 (한국생산기술연구원 열표면기술센터) ;
  • 이홍기 (한국생산기술연구원 열표면기술센터) ;
  • 허진영 (한국생산기술연구원 열표면기술센터) ;
  • 송동호 (한국생산기술연구원 열표면기술센터)
  • Published : 2013.05.30

Abstract

반도체 배선용 무전해 구리 도금에서 pH조정제가 구리피막과 Ta 확산방지막 사이의 접합력에 미치는 영향에 대하여 연구하였다. TMAH로 pH가 조절된 경우 NaOH 사용시에 비하여 높은 접합력을 나타내었다. 면간거리 및 밀도 측정결과 TMAH를 사용한 경우 구리피막이 보다 치밀한 구조임을 확인할 수 있었다. TMAH 사용시의 높은 접합력은 NaOH을 사용 한 경우에 비하여 무전해 구리피막이 보다 낮은 내부응력을 갖기 때문으로 판단되었다. pH조정제에 따른 내부응력의 변화를 결정구조의 관점에서 자세히 고찰하였다.

Keywords