반도체 Fab에서 Automated Material Handling System을 통한 생산성 개선 연구

Productivity Improvement Study through Automated Material Handling System in Semiconductor Fab

  • 원정민 (삼성전자 메모리 Test 기술그룹) ;
  • 박세호 (삼성전자 메모리 Test 기술그룹) ;
  • 김광수 (삼성전자 메모리 Test 기술그룹)
  • 발행 : 2013.05.29