EWMA 관리도 최적화를 통한 반도체 제조 공정의 설비 미세변동 감지력 향상에 관련 연구

A case study regarding improving fine variation detecting rate of the machine through optimizing EWMA control charts in semiconductor manufacturing process

  • 김민철 (삼성전자 공과대학 반도체 공학과) ;
  • 변권현 (삼성전자 DS 부문 메모리 사업부) ;
  • 김종규 (삼성전자 DS 부문 메모리 사업부)
  • 발행 : 2013.05.29