Study on the Beam Extraction Characteristics of the ICP Ion Source for Focused Ion Beam Devices with Higher Yield

고수율 집속 이온빔 장치를 위한 ICP 이온원의 빔 인출 특성에 관한 연구

  • 김동욱 ((재)한국전자기계융합기술원) ;
  • 장동영 (서울과학기술대학교 글로벌융합산업공학과) ;
  • 박만진 ((재)한국전자기계융합기술원) ;
  • 김기환 ((재)한국전자기계융합기술원)
  • Published : 2013.05.29