Pulse에 의해 형성된 Ni-strike layer가 Al 60계열의 si, mg diffusion 방지에 미치는 영향

• 박숙희 ((주)나인테크) ;
• 황충호 ((주)나인테크) ;
• 조대형 (한국산업기술시험원) ;
• 김정수 (한국산업기술시험원) ;
• 정대희 (한국산업기술시험원) ;
• 전종태 ((주)MSC)

• Park, Suk-Hui ;
• Hwang, Chung-Ho ;
• Jo, Dae-Hyeong ;
• Kim, Jeong-Su ;
• Jeong, Dae-Hui ;
• Jeon, Jong-Tae

• 발행 : 2012.11.08

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