A Scale-Space based on Bilateral Filtering for Robust Feature Detection in SIFT

SIFT 알고리즘의 강인한 특징점 검출을 위한 양방향 필터 기반 스케일 공간

  • Kim, Seungryong (School of Electrical Electronic Engineering, Yonsei University) ;
  • Yoo, Hunjae (School of Electrical Electronic Engineering, Yonsei University) ;
  • Son, Jongin (School of Electrical Electronic Engineering, Yonsei University) ;
  • Oh, Changbum (School of Electrical Electronic Engineering, Yonsei University) ;
  • Sohn, Kwanghoon (School of Electrical Electronic Engineering, Yonsei University)
  • 김승룡 (연세대학교 전기전자공학과) ;
  • 유훈재 (연세대학교 전기전자공학과) ;
  • 손종인 (연세대학교 전기전자공학과) ;
  • 오창범 (연세대학교 전기전자공학과) ;
  • 손광훈 (연세대학교 전기전자공학과)
  • Published : 2012.07.05

Abstract

컴퓨터 비전에서 영상 매칭 기술은 다양한 분야에 응용될 수 있는 기초적인 기술 중에 하나이다. 강인한 영상 매칭을 위해서는 정확하고 독특한 특징점을 검출하는 과정이 중요하다. 기존의 SIFT나 SURF 등 영상 매칭 알고리즘은 등방성 가우시안 필터링을 사용한 스케일 공간을 생성하여 특징점을 검출한다. 이러한 기존의 특징점 검출 방식은 스케일 공간에서 영상의 경계선을 모호하게 만들어 정확한 특징점 검출을 어렵게 만들고 영상 매칭의 성능을 떨어뜨리는 문제점을 가지고 있다. 본 논문에서는 SIFT 알고리즘의 강인한 특징점 검출을 위하여 양방향 필터링을 사용하여 스케일 공간 생성을 제안한다. 이러한 스케일 공간 생성 방식은 스케일 공간에서 영상의 경계선을 보존해 줌으로서 강인한 특징점 검출을 가능하게 하여 영상 매칭 성능을 향상시킨다. 특히 왜곡이 존재하는 영상들의 매칭에서 제안하는 특징점 검출 방법이 적용된 SIFT 알고리즘은 기존의 SIFT 알고리즘보다 우수한 영상 매칭 결과를 보여준다.

Keywords