라인스캔을 통한 X선 영상의 밝기 특성 기반 모서리 검출

Edge detection by intensity characteristics of X-ray image from line scan

  • 황상철 (중앙대학교 기계공학부) ;
  • 최영 (중앙대학교 기계공학부) ;
  • 구승범 (중앙대학교 기계공학부)
  • 발행 : 2012.05.30