효율적인 Built-In-Test 개발을 위한 프로세스 개선 방안

Process Improvement Methodology for The Efficient Built-In-Test Development

  • 발행 : 2012.06.22

초록

BIT(Built-in Test)란 소프트웨어와 하드웨어의 기능 및 상태를 진단하고 오류에 대응하기 위한 방법론으로 빠른 오류 대처가 있어야 하는 다양한 분야에서 사용되고 있다. 현업에서의 BIT는 도메인의 특성에 따라 고려해야 하는 요소가 많으므로 각 도메인에 맞춰 구조화되지 않은 형태로 개발되고 있다. 따라서 기존 개발 방법론은 반복적인 작업이 수반되며 적용 환경 및 상활에 따라 변화하는 부분을 매번 새로 개발하기 위해 많은 인력과 시간이 필요하다는 문제점을 가진다. 이를 해결하기 위하여 본 논문에서는 개선된 BIT 개발 프로세스를 제안한다. 제안하는 프로세스는 BIT 처리 과정을 일반화하여 명세하고 이를 활용하여 BIT 처리 코트를 자동 생성한다. 그리고 BIT 코드를 검증할 수 있는 시뮬레이션 환경을 제공한다. 이를 통해 BIT 처리 구조 개발 과정의 편의성과 생산성을 향상하고 BIT 처리 구조의 유연성과 확장성 그리고 안정성을 높일 수 있다.

키워드

과제정보

연구 과제번호 : 기동무기 내장형 실시간 제어 시스템용 마이크로 초급 정밀도와 99.99% 신뢰성의 RTOS 기술 개발

연구 과제 주관 기관 : 지식경제부