Proceedings of the Korean Information Science Society Conference (한국정보과학회:학술대회논문집)
- 2012.06b
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- Pages.120-122
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- 2012
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- 1598-5164(pISSN)
CREST-BV: An Improved Concolic Testing Technique with Bitwise Operations Support for Embedded Software
CREST-BV: 임베디드 소프트웨어를 위한 Bitwise 연산을 지원하는 Concolic 테스팅 기법
- Kim, Yun-Ho (Korea Advanced Institute of Science and Technology) ;
- Kim, Moon-Zoo (Korea Advanced Institute of Science and Technology) ;
- Jang, Yoon-Kyu (Samsung Electronics)
- Published : 2012.06.22
Abstract
기존 소프트웨어 테스팅 기법은 개발자가 수동으로 테스트 케이스를 작성해야 하는 비효율성으로 인해 임베디드 소프트웨어의 안정성 확보에 어려움이 있다. Concolic 테스팅 기법은 자동으로 소프트웨어 테스트 케이스를 생성함으로써 기존 소프트웨어 테스팅 기법의 문제를 해결했지만, 임베디드 소프트웨어 테스트에 필수적인 bitwise 연산을 지원하지 않는 등의 문제가 있었다. 본 논문에서는 임베디드 소프트웨어를 위해 bitwise 연산을 지원하는 Concolic 테스팅 개선 방법에 대한 연구를 수행하고 오픈 소스 임베디드 소프트웨어 Busybox에 적용하여 기존 연구와 결과를 비교하였다. Busybox의 10개 유틸리티에 적용한 결과 기존 연구 결과 대비 평균 33%의 분기 커버리지 향상이 있었다.
Keywords