Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2012.11a
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  • Pages.535-536
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  • 2012
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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Straight Line Extraction in Object Contour using Key-Line Searching

대표 직선 탐색법을 이용한 물체 윤곽선에서의 직선 검출

  • Oh, Seung-Taek (Dept. of Computer Engineering, Graduate School, Kongju National University) ;
  • Jun, Byung-Hwan (Division of Computer Science and Engineering, Kongju National University) ;
  • Oh, Hyun-Og (Boogook Industries Co., Ltd.)
  • 오승택 (공주대학교 대학원 컴퓨터공학과) ;
  • 전병환 (공주대학교 컴퓨터공학부) ;
  • 오현옥 (부국산업주식회사)
  • Published : 2012.11.22
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Abstract

본 논문에서는 물체가 가지고 있는 다양한 형태의 직선 외형을 검출하기 위한 효율적인 알고리즘을 제안한다. 직선 외형의 검출은 물체를 인식하거나 물체에 대한 필요 정보를 취득하고자 할 때 기본적으로 활용될 수 있는 핵심적인 알고리즘이다. 제안하는 알고리즘에서는 이진화된 입력 영상에 대하여 수직 프로젝션을 수행하여 관심영역을 추정한다. 이후 관심 영역 내 주요 경계점 들 간의 적합한 변위를 계산하고 이를 통하여 효율적인 직선 외형을 검출하고자 하였다.

Keywords