Design for Automatic code generation of Built-In-Test based on XML Description

XML 명세 기반 Built-In-Test 코드 자동 생성 체계

BIT(Built-In Test)란 S/W 또는 H/W 의 기능 및 상태를 진단하고 오류에 대응하기 위한 방법론으로 기능에 대한 신뢰성 및 빠른 오류 복구를 보장하기 때문에 다양한 분야에서 BIT 처리를 통해 시스템의 안정성을 높이고 있다. 현업에서의 BIT 는 도메인 특성에 따라 처리해야 하는 작업의 변화가 크기 때문에 구조화 되지 않은 형태로 각각 개발되고 있다. 따라서 BIT 개발 시 반복적인 작업이 수반되며 처리 과정의 수정 또는 처리 범위의 확장을 위해서는 많은 시간 및 인력이 요구된다. 이에 본 논문에서는 BIT 처리를 구조화하기 위하여 처리과정에 필요한 정보들을 일반화된 형태로 기록할 수 있도록 하는 BIT 처리 병세 방안과 BIT 처리 명세를 기반으로 한 자동 코드 생성 체계를 제안한다. 이를 통해 개발 과정의 편의성과 생산성을 향상하고 BIT 처리의 유연성과 확장성을 높일 수 있다.