COMPAS 시스템을 활용한 유사특허탐색과 분쟁특허 유사도 측정

  • 강종석 (한국과학기술정보연구원, 기술기회연구팀) ;
  • 홍성화 (한국과학기술정보연구원, 기술기회연구팀) ;
  • 이혁재 (한국과학기술정보연구원, 기술기회연구팀)
  • Published : 2012.11.01