Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2011.07a
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- Pages.2033-2034
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- 2011
Terahertz reflection nondestructive test by time analysis and short-time Fourier analysis
시간 분석 및 짧은 시간 구간별 주파수 분석을 이용한 반사형 테라헤르츠파 비파괴 검사
- NamGung, Chan (Dept. Electrical Engineering, Kwangwoon University) ;
- Cho, Sang-Heum (Dept. Electrical Engineering, Kwangwoon University) ;
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Ahn, Chang-Beom
(Dept. Electrical Engineering, Kwangwoon University)
- Published : 2011.07.20
Abstract
본 논문에서는 물체 내부를 파괴하지 않고 검사 할 수 있는 방식 중에 인체에 무해한 테라헤르츠파를 이용하여 짧은 시간 영역과 짧은 시간 주파수 영역을 분석하고, 집적회로 샘플을 대상으로 실험하였으며 짧은 시간 주파수 영역을 분석함으로써 비파괴 검사를 할 수 있다는 가능성을 제시하였다.
Keywords