한국화재소방학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korea Institute of Fire Science and Engineering Conference)
- 한국화재소방학회 2011년도 춘계학술논문발표회 논문집
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- Pages.77-79
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- 2011
가전제품의 스위칭 고장 원인에 대한 신뢰성 평가
A Study on the Reliability Assessment about Switching Failure Cause of Appliance
- Park, Hung-Ki (Quality and Reliability Laboratory, DAEWOO Electronics Co., Ltd.) ;
- Choi, Chung-Seog (Department of Fire Safety Engineering, JEONJU University)
- 발행 : 2011.04.22
초록
본 논 연구에서는 가전제품 중에서 야간 절전 버튼의 작동 불량 원인을 규명하여 제품의 성능 및 신뢰성 향상을 위한 객관적 근거를 제시하였다. 시판된 제품을 수거하여 불량품 검사(전기적 특성 및 decap)를 실시한 결과 절전 버튼 IC pin No.2의 단락(short)에 의한 오작동 요소를 밝힐 수 있었다. 동일한 사양의 재현실험에서 EOS(전기적 과도전압에 의한 스트레스)보다 정전기 방전에 스트레스에 의해서 소손되는 특성을 나타내는 것을 확인할 수 있었다. 오작동 요소로 확인된 IC pin 2번에 바리스터(Varistor)를 부착하고 11kV를 인가하여 시험한 결과 오작동 요소를 제거할 수 있었다.
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