Scrubbing Scheme for Advanced Computer Memories for Multibit Soft Errors

다중 비트 소프트 에러 대응 메모리 소자를 위한 스크러빙 방안

The reliability of a computer system largely depends on that of its memory systems, which are vulnerable to soft errors. Soft errors can be coped with a combination of an Error Detection & Correction circuit and scrubbing operation. Smaller geometries and lower voltage of advanced memories makes them more prone to suffer multibit soft errors. A memory structure against multibit soft errors and a suitable scrubbing scheme for it were proposed. This paper introduces a key issue for the scrubbing of the memories with protection against multibit soft errors and the result of the performance analysis from a reliability point of view.

컴퓨터 시스템의 신뢰도에 가장 큰 영향을 미치는 것이 메모리 시스템의 신뢰도이며 메모리 시스템에서 발생하는 가장 빈번한 오류는 소자의 물리적 손상 없이 저장 정보가 변경되는 소프트 에러이다. 메모리에서 발생하는 소프트 에러의 영향은 오류 검출 및 정정 회로와 스크러빙 작업을 통하여 극복할 수 있다. 메모리 소자의 집적도가 높아짐에 따라 인접한 메모리 셀에 걸쳐서 발생하는 다중 비트 소프트 에러의 발생 빈도가 증가했으며 이를 해결하기 위한 메모리 구조와 스크러빙 기법이 제안되었다. 본 논문은 다중 비트 소프트 에러 대응 메모리 소자에 대한 이전 연구 결과에 적용할 수 있는 스크러빙 수행 방안을 제안하고, 그에 따른 신뢰도 성능 해석 결과를 보여준다.