The Implementation of the Detection System of RFID Defective Tags Using UML and LabVIEW OOP

UML과 LVOOP를 활용한 RFID 불량 검출 시스템의 구현

  • Published : 2011.10.26

Abstract

It has been required to develop a defect detection system to perform defect detection capabilities after the bonding process in the production of RFID tags. However, we are difficult to design a system with understanding the characteristics of RFID tags and design concepts. Also we are difficult to modify even minor changes in features. In this paper, we design the defect RFID detection system using UML and object-oriented design techniques. We suggest the method for apply the UML Diagram to LabVIEW OOP and the technique for redesign the effect detection system's changes.

RFID 태그 생산 분야에서 RFID 칩 본딩 과정 이후에 RFID 태그 불량 검출 기능을 수행하는 불량 검출 시스템 개발이 요구되어 왔다. 그러나 RFID 태그의 특징을 이해하면서 제대로 된 설계 개념을 가지고 구현된 시스템을 설계하기가 어렵고 사소한 기능의 변화에도 시스템을 처음부터 설계를 해야 하는 어려움이 있었다. 이 논문에서는 RFID 태그 불량 검출 기능을 수행하는 불량검출 시스템을 UML을 이용하여 객체지향 기법으로 설계하고 UML로 설계된 모델링을 객체지향을 지원하는 비주얼 언어인 LabVIEW OOP로 적용하는 방법을 제시한다. UML과 LabVIEW OOP로 설계되고 구현된 불량검출 시스템에 대한 성능과 시스템의 기능 변화에 따른 재설계 기법에 대한 기법도 제안한다.

Keywords