Proceedings of the KAIS Fall Conference (한국산학기술학회:학술대회논문집)

The Korea Academia-Industrial cooperation Society (한국산학기술학회)
권호 표지

Quality examination analysis of RFID middle wear

RFID 미들웨어의 품질시험분석

  • Kang, Bae-Keun (Graduate School of Multidisciplinary Technology and Management, Hoseo Univ.) ;
  • Mazhizhong, Mazhizhong (Graduate School of Multidisciplinary Technology and Management, Hoseo Univ.) ;
  • Yang, Hae-Sool (Graduate School of Venture, Hoseo University)
  • 강배근 (호서대학교 혁신기술경영융합대학원) ;
  • 마지중 (호서대학교 혁신기술경영융합대학원) ;
  • 양해술 (호서대학교 벤처전문대학원)
  • Published : 2010.11.12
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Abstract

RFID은 최소한의 에너지를 소모하면서 최대한의 데이터를 전송하고 또한 가능한 한 높은 신뢰도의 데이터를 전송하기 위해 노력한다. 이렇듯 요구사항이 많은 환경에서의 RFID 기술은 지금 이 시간에도 다양한 분야에서 활발하게 연구되고 있다. 본 연구에서는 RFID S/W의 품질을 평가하기 위해 품질을 시험하여 측정하고 도출된 결과를 분석하여 향후 실질적인 활용을 통해 고품질 RFID S/W의 개발을 촉진함으로써 높은 부가가치를 창출하고 경쟁력을 갖춘 제품의 개발 지원을 도모한다.

Keywords