Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference (한국정밀공학회:학술대회논문집)
- 2010.05a
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- Pages.1063-1064
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- 2010
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- 2005-8446(pISSN)
A High Frequency Electrical Test Setup for NAND Flash In Low Frequency Tester
저 효율 시험장비에서 고속동작 낸드 플래시 메모리 제품의 전기적 특성 시험방법 개발에 관한 연구
- Park, I.J. (SSIT) ;
- Park, H.H. ;
- Kim, J.K. ;
- Kim, R.M.
- 박인재 (삼성전자공과대학교(SSIT) 반도체공학과) ;
- 박현호 (삼성전자 Memory 사업부) ;
- 김종국 (삼성전자 Memory 사업부) ;
- 김낙문 (삼성전자 Memory 사업부)
- Published : 2010.05.26