Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2010.04a
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  • Pages.365-368
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  • 2010
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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CCFL Defects Detection Algorithm with Shooting Environment

CCFL 검사를 위한 촬영환경 및 불량판별 알고리즘

  • Moon, Chang Bae (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Jung, Un-Kuk (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Lee, Hung Su (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Lee, Jun Young (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Lee, Hae-Yeoun (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Kim, Byeong Man (Dept. of Computer and Software Engineering. Kumoh National Institute of Technology) ;
  • Yang, Han Suk (U-Vision Co. Ltd)
  • 문창배 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 정운국 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 이흥수 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 이준영 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 이해연 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 김병만 (금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어전공) ;
  • 양한석 ((주)유비젼)
  • Published : 2010.04.23
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Abstract

LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 그러나 육안 검사는 CCFL 현광체의 불량에 대한 일관성 있는 기준이 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. CCFL 불량유무를 자동 판별하기 위해서는 물리적 촬영환경과 자동검출 알고리즘이 필수적이다. 본 논문에서는 CCFL 형광체의 불량을 자동으로 검사하기 위한 촬영환경을 설명하고, 그 촬영환경에 알맞은 대표적인 불량검출 알고리즘을 제안한다. 실험결과에 따르면, 알고리즘은 불량 판별율 98.86%와 과검율 3.34%의 성능을 보였다.

Keywords