Infinitely high selective etching of ITO binary mask structure for extreme ultraviolet lithography (EUVL)

  • 박영록 (성균관대학교, 신소재공학과) ;
  • 안정호 (성균관대학교, 신소재공학과) ;
  • 김진성 (성균관대학교, 신소재공학과) ;
  • 권봉수 (성균관대학교, 신소재공학과) ;
  • 이내응 (성균관대학교, 신소재공학과) ;
  • 강희영 (인하대학교 물리학과) ;
  • 서환석 (삼성전자(주))
  • 발행 : 2009.02.11