양전자소멸 방법으로 X선 조사에 의해 (Ba,Sr)FBr:Eu 형광 물질에 생성되는 결함 측정

  • 이종용 (한남대학교 물리학과) ;
  • 배석환 (건양대학교 영상의학과) ;
  • 김재홍 (원자력의학원 가속기이용기술개발팀) ;
  • 권준현 (원자력연구소 원자력 재료기술개발부)
  • Published : 2009.02.11