한국진공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference)
- 한국진공학회 2009년도 제36회 동계학술대회 초록집
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- Pages.132.1-132.1
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- 2009
Temperature Dependency of Tunnel Barrier Enginnered (TBE) Charge Trap Flash (CTF) Memory
- 오세만 (광운대학교 전자재료공학과) ;
- 박군호 (광운대학교 전자재료공학과) ;
- 오준석 (광운대학교 전자재료공학과) ;
- 조영훈 (한국기초과학지원연구원) ;
- 박승영 (한국기초과학지원연구원) ;
- 정종완 (세종대학교 나노신소재공학과) ;
- 이영희 (광운대학교 전자재료공학과) ;
- 정홍배 (광운대학교 전자재료공학과) ;
- 조원주 (광운대학교 전자재료공학과)
- O, Se-Man ;
- Park, Gun-Ho ;
- O, Jun-Seok ;
- Jo, Yeong-Hun ;
- Park, Seung-Yeong ;
- Jeong, Jong-Wan ;
- Lee, Yeong-Hui ;
- Jeong, Hong-Bae ;
- Jo, Won-Ju
- 발행 : 2009.02.11