ZnO 후방게이트 MOSFET구조에서 산소와 수소가 저주파잡음에 미치는 영향

• 김선희 (한국과학기술연구원) ;
• 유병용 (한국과학기술연구원) ;
• 최경진 (한국과학기술연구원) ;
• 이정일 (한국과학기술연구원) ;
• 오선근 (건국대학교 물리학과) ;
• 이철호 (포항공대 신소재공학과) ;
• 이규철 (포항공대 신소재공학과)

• Kim, Seon-Hui ;
• Yu, Byeong-Yong ;
• Choe, Gyeong-Jin ;
• Lee, Jeong-Il ;
• O, Seon-Geun ;
• Lee, Cheol-Ho ;
• Lee, Gyu-Cheol

• 발행 : 2009.02.11

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